公的機関の依頼試験や高度分析機器の利用にかかる手数料・利用料の一部を補助し、中小企業の製品開発や品質向上を支援します。
中小企業の新技術の研究開発や製品の品質管理・改善、新製品開発に係る、公的機関等が行う依頼試験や高度計測分析機器の利用に要した手数料や利用料の一部を補助する制度です。あいち産業科学技術総合センター、名古屋市工業研究所、あいちシンクロトロン光センターの利用が対象です。
2026年03月31日まで
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